大芯片封装工艺运用分析——以绍兴柯桥幕墙屏为例

发表时间:2020/7/20   来源:《基层建设》2020年第9期   作者:蒲文勇
[导读] 摘要:本文对大功率LED芯片封装流程进行分析,并提出芯片封装的关键技术与工艺,包括低热阻封装技术、热学封装技术、倒装芯片封装技术等等,最后以绍兴柯桥幕墙屏项目为例,针对该项目的技术难点提出解决措施,力求通过本文研究,使大芯片封装工艺的应用效率得到显著提升,获得更加理想的应用效果。
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        摘要:本文对大功率LED芯片封装流程进行分析,并提出芯片封装的关键技术与工艺,包括低热阻封装技术、热学封装技术、倒装芯片封装技术等等,最后以绍兴柯桥幕墙屏项目为例,针对该项目的技术难点提出解决措施,力求通过本文研究,使大芯片封装工艺的应用效率得到显著提升,获得更加理想的应用效果。
        关键词:大芯片;LED封装工艺;幕墙屏
        引言:
        近年来,LED作为新一代绿色照明光源得到广泛应用。光源的基础为芯片,要求充分把握封装质量,通过构建科学合理的封装结构,提高整体应用效率。同时,还应采取有效措施,通过低热阻封装技术、热学封装技术、倒装芯片封装技术等降低热阻,使光电性能得到充分发挥,提高工艺的可靠性。
        1大功率LED芯片封装流程
        该项封装工艺较为复杂,需要应用到光、电、热、机械与半导体等多种材料,在封装时对各项因素综合考虑,按照特定的流程进行封装,具体如下图1所示。晶片作为LED的发光体,类型多种多样,性能也不尽相同,在一定程度上对LED封装产生影响,因此应根据工程实际需求进行合理选择[1]。
       
        图1  LED芯片封装流程
        2LED芯片封装的关键技术
        2.1低热阻封装技术
        传统荧光灯的散热要求不够严格,主要以辐射的形式散热,而LED的要求比较高,以热传导为主。目前LED的主材为固体半导体芯片,与电路接通后,辐射发射相对较小。目前,LED设备中85%的电能可以转化为热能。在封装过程中对芯片散热十分重视,包括封装材料、结构和散热片设计。在封装时,应对界面型与内部型热阻综合考虑,借助散热基板吸收芯片上的热量并转移给散热器,然后与外界的流通。一般情况下,散热基本的特点如下:一是金属基板的散热性较高,在热导性、电磁屏蔽等方面具有显著特点,但其金属热膨胀系数相对较大,对应用效果产生不良影响;二是高热传导基本在绝缘方面采用树脂充填无机物,质量十分可靠;三是陶瓷基板在耐热性、耐潮湿、耐高温等方面具有较大优势,但是价格相对较高,影响了推广和应用。
        2.2热学封装技术
        对于LED器件来说,散热问题十分关键,如果电流中产生的热量随时间扩散,结温在一定范围内为常数,将缩短器件的使用寿命,阻碍光源输出。当前Ag散热材料较为常见,具有良好的导热效率,但是不可将其作为通用的散热器,究其原因,此类设备的成本相对较高。而Cu材料在价格上更具优势,且导热率与Ag材料相似,因此更适用于大规模制造。经过多次试验对比后,最好的方法是用Ag或Cu作为散热片连接芯片,并将Al散热片与散热片连接,在热传导作用下促进散热,这样做不但可提高散热器的性能,还可提高散热效果,与不同设备特点和需求相结合,从而使其成本得到有效控制。芯片与铜基的连接材料要合理选择。通常情况下,以银胶为主进行连接,但因Ag导热系数范围在10—25W/(m·k)之间,具有较高的热阻,如若采用Ag作为连接采用,可以看作是在散热器和芯片的交界处增加了一层热阻。对此,可采用共晶焊接技术,在新型固晶工艺之下利用Sn片进行焊接,Sn的导热系数为67W/(m·K),与Ag胶相比,在散热性能与物理特点方面具有显著优势,可获得更加可观的导热效果[2]。
        2.3倒装芯片封装技术
        一般情况下,以往LED使用的是正装结构,通常下方以蓝宝石为底色,在上层敷设环氧树脂。在此类芯片封装过程中,因P-GaN的配制难度较大,采用常规方法制备了能促进电流稳定扩散的透明金属电极。灯源的光亮更加均匀。在结构的PN结中,通过衬底达到散热效果,因衬底的热阻较大,加上导体质量一般,对树脂导热能力造成不良影响,热量很难有效传导,导致器件的正常运行受到极大不良影响。为了改善这一缺陷,可采用倒装芯片工艺,利用焊线设备在芯片的P极与N极的底部选取两个点作为电极提取机构,Si底板通过金线与芯片外部有效连接,从而改善了形式结构芯片目前存在的问题。使出光率方面的弊端得到有效克服。
        2.4荧光粉涂覆技术
        该项技术以光转化结构为核心,也就是荧光粉涂层结构,适用于LED白光照明技术,可将芯片发出的短波长光线进行转化,使其变成与之互补的长波长的光线。采用荧光粉可产生三种形式的光,包括红光、蓝光与绿光。根据现有涂覆方式来说,不同技术均有各自的优缺点。当前应用较为广泛的是将荧光粉与灌封胶相结合,将其直接涂抹在芯片上。因荧光粉厚度与形状控制难度较大,发出的射光颜色不一,偏向黄色或蓝色。究其原因,主要因荧光粉覆盖在芯片上方,将导致其温度增加,降低荧光粉的量子效率,进而对封装转换效果产生不良影响。对此,为了提高光色的均匀性,可采用保形涂层技术,可实现荧光粉的均匀涂抹,达到相对理想的涂覆效果。
        3大芯片封装工艺的具体应用
        3.1工程概述
        本文以绍兴柯桥幕墙屏项目为例,该项目位于绍兴科学城,是整个项目的核心所在,其中纺城艺展中心便是重中之重,不但具有丰富的商业功能,还具有浓郁的艺术感染力,可谓是建筑界的艺术品。该项目集购物、逛街、办公与酒店式公寓于一身,属于新型城市商业综合体,整栋建筑玻璃幕墙面积为1700平方米。3.2技术难点
        由于该项工程涉及的内容众多,工期较紧,且对当地经济发展具有较强的带动作用,因此设计与施工要求十分严格,在无形中增加了技术难度,具体如下:
        (1)屏体安装后不可影响整栋建筑采光;
        (2)屏体的亮度超过7500CD;
        (3)全方位、多角度观看均不可影响艺术效果;
        (4)与屏体防护等级要求充分符合。
        3.3解决措施
        首先,采用通透度较高的LED透明屏不遮挡阳光,确保良好的透视效果,还可降低整个显示屏的结构重量,提高显示效果。根据工程实际情况,采用横纵间距均为16mm的尺寸,整个显示屏的通透率可达到75%,该项指标的计算公式为:
        A=(B-C)/D
        式中,A代表的是通透率;B代表的是纵向间距;C代表的是灯条厚度;D代表的是纵向间距。在电子设计方面,通过灯驱分离的方式进行布设;在对灯条设计时,将灯珠焊盘设计为横向,在驱动部位采用一根灯条、一组数据与主控信号,使产品更加稳定可靠,最后采用焊接的方式达成通信目标。
        其次,屏体采用静态控制,灯珠管芯为大芯片封装工艺,电路设计采用四层电路板,使PCB设计能够有效避免信号相互干扰,合屏体的量大能够超过7500CD,并具有较强的可靠性。在亮度计算方式,不同颜色LED灯的亮度不尽相同,亮度公式分别为:
        红色LED灯:亮度7500(CD)/M2÷点数/M2×0.3×30%R÷0.8Q=720MCD
        绿色LED灯:亮度7500(CD)/M2÷点数/M2×0.6×60%R÷0.8Q=1440MCD
        蓝色LED灯:亮度7500(CD)/M2÷点数/M2×0.1×10%R÷0.8Q=240MCD
        式中,R代表的是白平衡配比;Q代表的是系统损耗度。
        此外,灯珠的倾斜度设置为15°,这样有助于建筑物从多个角度完美展示。在设计中将常规灯条均露于外侧,并对应用环境与综合条件统筹考虑,采用全铝合金设计方式,灯条在铝条的包裹下不但美观有质感,还具有较为理想的防护和支撑作用,与工程的安全规定充分符合。在工程完工后,受到业主与总包单位的一致认可与好评[3]。
        3.4可靠性分析
        对于静电对芯片造成的损害,静电的电场或电流产生较大的热能,可使LED灯的运行状态受到较大损害,主要体现在漏电流增加等方面,虽然仍可工作,但亮度上却受到较大影响,使用寿命也缩短。在LED封装生产线中,应对全部设备进行接地处理,严格遵循设计标准的相关要求,使焊接温度降低,优化产品质量,延长使用寿命;在开路装置的内部连接中,支架排对LED的性能有直接影响,通常使用铜、铁等金属模具进行冲压,并在表面镀银以避免氧化生锈现象,并且更加容易焊接。在生产固态晶体的过程中,应尽量减少胶水的用量,禁止过多或过少,避免短路危害。在焊接时,用金丝球焊机根据各项指标,在固定时间对其他参数进行调整,使焊接水平得以提高。在可靠性评估方面,LED的失效模式包括机械失效、光学失效和电气失效,通常将平均失效时间作为设备的使用寿命。在加速试验中,对设备的可靠性进行评估,包括冷热冲击、低温存储、高温高湿、机械冲击等等,试验结果表明,该设备的性能与实际需求充分符合。
        结论:
        综上所述,在节能环保建筑施工背景下,LED作为新一代绿色照明光源得到广泛应用,光源的基础为芯片,要求充分把握封装质量,对此,应根据建筑项目的实际情况,牢牢把握芯片封装的关键技术与工艺,灵活采用低热阻封装技术、热学封装技术、倒装芯片封装技术等方式,使LED光源的节能性、舒适性达到最佳状态,并对封装效果进行全面检测,使工程施工效率和质量得到全面提升。
        参考文献:
        [1]吴运铨.大功率LED封装工艺技术[J].湖南农机:学术版(1期):61-62.
        [2]金忠,谢锋,何迎辉,等.倒装焊接在压力敏感芯片封装工艺中的研究[J].电子与封装,2019(9):10-13.
        [3]刘汉诚,李世玮,贾松良,等.芯片尺寸封装设计、材料、工艺、可靠性及应用[J].电子工业专用设备,2019,33(1):79-79.
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